v2.2.9 (2287)

Cours - 9S-613-PHO : Métrologie optique

Domaine > Photonique.

Descriptif

Ce cours présente sur 3 jours les principales méthodes utilisées pour caractériser des composants optiques. Une 4e journée est plus spécifiquement orientée « systèmes ». 

 

 

Objectifs pédagogiques

A l'issue de cet enseignement, les élèves seront capables de:

- Maitriser le domaine de l'optique et de la photonique

- Etre capable de mettre en oeuvre tout projet intégrant l'optique et la photonique

- Intégrer la photonique aux autres dimensions du système ou projet  (électronique, mécanique, informatique, champ d'application …)

 

- Inventer / Concevoir / Mettre en œuvre / Caractériser un système à composante photonique

 

- Réaliser / Proposer des expérimentations

- Communiquer avec des spécialistes et non-spécialistes (écrit/oral)

 

 

nombre d'heure en présentiel

20

Volume horaire par type d'activité pédagogique : types d'activité

  • Travaux dirigés : 8
  • Cours magistral : 12

Diplôme(s) concerné(s)

UE de rattachement

Pour les étudiants du diplôme Diplôme d'ingénieur de l'Institut d'Optique Théorique et Appliquée - Master of Science in Engineering

Optique géométrique Optique physique Théorie des aberrations Introduction à la conception optique avec Zemax

Format des notes

Numérique sur 20

Pour les étudiants du diplôme Diplôme d'ingénieur de l'Institut d'Optique Théorique et Appliquée - Master of Science in Engineering

Vos modalités d'acquisition :

L’évaluation se fait sous forme d’un examen mêlant travail expérimental avec l’interféromètre de Zygo, et simulations sur Zemax.

Examen de TP + rapport

 

Le rattrapage est autorisé (Note de rattrapage conservée écrêtée à une note seuil)

    Le coefficient de l'UE est : 25

    Programme détaillé

    Défauts de forme

    Systèmes de mesure ponctuelle

    Systèmes de mesure surfacique (dont interférométrie, Foucault, Hartmann, Shack-Hartmann)

    Mesure d’interface

    Rugosité

    Notion de fabrication optique

     

    Mots clés

    Interféromètre, analyseur de surface d’onde, défaut de forme
    Veuillez patienter